概述：

本儀器采用四探針接觸式原理，用于測量導電膜層的面電阻，又稱方塊電阻。

測量對象：Low-E導電鍍膜玻璃

TCO光伏玻璃、ITO玻璃、觸摸屏玻璃

透明導電薄膜材料

人工合成金屬片及導電紙

其他導電材料

特性：

高精度接觸測量；

專用于大面積平板鍍膜測量

探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易劃傷膜層；

多個量程范圍可自動選擇；

校準數(shù)據(jù)和測量結(jié)果自動存儲；

串行數(shù)據(jù)接口；

以Ohm/sq或Siemens/sq顯示數(shù)據(jù)

技術參數(shù)：

　測量方法：四探針式測量；

　測量速度：2秒；

　測量范圍:0～200K Ohm；

　操作溫度：0～50℃；

　電池持續(xù)時間：4～6小時；

　外形尺寸300mm×290mm×120mm；

　重量：約2.7kg。

說明：

    配套附件包括：測量探頭SDKR-13一個、測量探頭SDKR-25一個、校準箱E-500一個、串行數(shù)據(jù)線一根。 

生產(chǎn)商：德國NAGY